k-Space는 세계 수준의 계측형 도구를 사용하여 내부 웨이퍼와 샘플 특성화 서비스를 제공합니다. 당사의 박막 특성화 장치는 660nm에서 곡률, 휨 높이, 기울기 및 절대 반사율의 전체 웨이퍼/샘플 맵을 수행할 수 있습니다. 또한 정반사, 절대 투과율, 광학 흡수 엣지 및 온도 의존적 광학 흡수 엣지 측정을 수행할 수 있습니다.
웨이퍼 곡률, 휨 높이 및 기울기 특성화
표준 웨이퍼 크기: 2인치, 3인치, 100mm, 150mm, 200mm 및 300mm 웨이퍼/샘플은 거울같거나 유사한 표면 품질이어야 합니다(샘플에서 반사 상태를 볼 수 있음).
맞춤형 사이즈를 측정할 수 있지만 맞춤형 샘플 홀더의 가공이 필요할 수 있음(견적 별도)
스캔 유형:
라인 스캔
선택 가능한 영역 스캔, 5mm 가장자리 제외하고 최대 전체 웨이퍼
스캔 해상도 : 1um
곡률 및 휨 높이의 최대 반경은 표본 크기에 따라 달라짐. 곡률 반경이 10m 이상인 경우 웨이퍼 직경 300mm까지 전체 면적 스캔을 수행할 수 있음.
곡률 해상도 : <= 2e-5 (1/m)
휨 높이 해상도: <= 0.01um
기울기 해상도: <= 0.01 arcsec
까다로운 측정거리가 있나요?
저희의 성공의 한 축은 여러분의 이야기를 귀담아 듣는 데서 시작합니다. 귀하의 프로젝트에 무엇이 필요한지 귀담아 듣겠습니다.